扫描电镜和透射电镜是两种电子显微镜，它们有如下区别：
1.应用不同：扫描电镜用于观察材料表面形貌和结构，透射电镜则用于观察材料内部的结构。
2.样品准备不同：扫描电镜的样品一般不需要特殊处理，而透射电镜的样品需要非常薄的截面，并且通常需要使用电子显微镜切割机来制备。
3.成像方式不同：扫描电镜通过探头扫描样品表面，来获得样品表面的形貌和结构信息；而透射电镜则是通过电子束穿过样品薄片，观察样品中原子和分子的结构和位置信息。
4.分辨率不同：透射电镜的分辨率更高，约为1埃，可以看到更小的结构和更细小的细节；扫描电镜的分辨率约为10纳米，无法观察到如此小的结构。
5.镜头结构不同：透射电镜需要一个完整的电子束透过样品，所以电子显微镜的镜头结构要比扫描电镜更加复杂。
主要体现在以下几个方面：1. 扫描电镜和透射电镜分析具有不同的特点和应用领域。
2. - 扫描电镜（Scanning Electron Microscope，简称SEM）通过扫描物体表面并测量其反射电子的信号来获取图像。
它适用于观察和分析样品的表面形貌、纹理、结构等。
- 透射电镜（Transmission Electron Microscope，简称TEM）则是通过样品内部透射的电子来获取图像。
它在原子尺度下能够显示样品的内部结构、晶体缺陷、原子级别的分子组成等细节。
3. - SEM具有高分辨率和较大的深度焦点，因此适用于对样品表面的形状和结构进行观察和分析。
- TEM具有更高的分辨率，能够观察到更小的细节和原子级别的信息，因此适用于研究纳米级材料、晶体结构等。
总结来说，扫描电镜主要用于样品表面的形貌观察，而透射电镜则更适用于样品的内部结构和高分辨率的分析。
