铝合金晶粒细化剂检测方法，取晶粒细化剂样品置于金相显微镜下，放大后在视野范围内选取1mm×1mm的方框，并统计该方框内质点的数量n及累计长度l，其中，n的单位为：个/mm2，l的单位为：μm。
目前晶粒细化剂的显微组织检测方法通常在金相显微镜下选取1cm2的视野范围统计质点或团块的尺寸和数量，而由于现有的晶粒细化剂尺寸越来越小，常规的方法难以准确观测和计算，对检测工作和结果带来极大的影响。而本发明在传统测量方法的基础上，进一步将样品纵截面的观测范围缩小到1mm2面积的方框，在该范围内不仅可以清楚观察到不同质点的边界，还可以准确测量质点尺寸，相比原来的方法可操作性更强，效率更高。
1、比较法：比较法不需计算晶粒、截矩。与标准系列评级图进行比较，用比较法评估晶粒度时一般存在一定的偏差(±0.5级)。评估值的重现性与再现性通常为±1级。
2、面积法：面积法是计算已知面积内晶粒个数，利用单位面积晶粒数来确定晶粒度级别数。该方法的精确度中所计算晶粒度的函数，通过合理计数可实现±0.25级的精确度。面积法的测定结果是无偏差的，重现性小于±0. 5级。面积法的晶粒度关键在于晶粒界面明显划分晶粒的计数
图：面积法
3、截点法：截点数是计算已知长度的试验线段（或网格）与晶粒界面相交截部分的截点数，利用单位长度截点数 来确定晶粒度级别数。截点法的精确度是计算的截点数或截距的函数，通过有效的统计结果可达到 ±0.25级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的，重现性和再现性小于±0.5级。对同一精度水平，截点法由于不需要精确标计截点或截距数，因而较面积法测量快。
