扫描电镜粒度是指在使用扫描电子显微镜（SEM）观察样品时，通过分析样品表面二次电子图像的灰度级别分布，来推测样品粒度的方法。扫描电镜粒度分析是一种定性和定量分析方法，可以帮助研究者了解样品的表面形貌、颗粒大小、分布和形状等信息。
在进行扫描电镜粒度分析时，首先需要对样品进行表面处理，使其具有合适的导电性和表面状态。然后，使用扫描电子显微镜观察样品表面，获取二次电子图像。接下来，通过图像处理软件对二次电子图像进行处理和分析，获得粒度分布信息。
扫描电镜粒度分析的主要步骤如下：
1. 获取二次电子图像：使用扫描电镜观察样品表面，收集二次电子信号生成图像。
2. 图像处理：对获取的二次电子图像进行灰度化处理，以便后续分析。
3. 建立粒度分析模型：根据灰度级别分布，建立粒度分析模型，包括粒度分布、颗粒形状等信息。
4. 分析粒度分布：通过统计分析方法，如累积粒度分布曲线、颗粒尺寸分布等，对粒度分布进行定性和定量分析。
5. 结果解读：根据分析结果，解读粒度分布特征，如颗粒大小、分布规律、形状等。
通过扫描电镜粒度分析，研究者可以深入了解样品的表面颗粒特征，为材料科学、生物学、环境科学等领域的研究提供有力支持。
在颗粒旁放一钢片尺作参照物就可确定扫描电镜图像中的颗粒粒径。
