变压器电压等级≥35KV且容量≥10000kVA以上时应测量介质损耗因素(tanδ)
被测绕组的tanδ应≤出厂试验值的130%,当＞130%时,应结合其他试验结果分析判断。
变压器本体电容量与出厂值比较的允许偏差为±3%
绕组在在20℃时、35kV及以下≤1.5%、66~220kV≤0.8%、330~500kV≤0.6%
《DLT596-2005》中变压器/电抗器绕组、电容型套管tanδ标准
绕组在在20℃时、35kV及以下≤1.5%、66~220kV≤0.8%、330~500kV≤0.6%
绕组tanδ与历年数值的比较不应该有显著变化(一般不大于30%)
电容型套管末屏对地绝缘电阻小于100MΩ时，其末屏对地tanδ应≤2%
电容型套管的电容值与出厂值或上一次试验的差别超过±5%时，应查明原因
电容型套管的允许的介质损耗因素(tanδ)
绕组在在20℃时、35kV及以下≤1.5%、66~220kV≤0.8%、330~500kV≤0.6%
绕组tanδ与历年数值的比较不应该有显著变化(一般不大于30%)
电容型套管末屏对地绝缘电阻小于100MΩ时，其末屏对地tanδ应≤2%
变压器介损，220～330千伏小于等于0.6%，35～110.千伏小于等于0.8%，10千伏及以下小于等于1%。
