可控硅如何测量好坏(可控硅好坏简易判断方法)

可控硅如何测量好坏(可控硅好坏简易判断方法)

首页维修大全综合更新时间:2024-04-24 22:48:07

可控硅如何测量好坏

可控硅的好坏可以通过以下几个方面进行测量:

1. 静态特性测试:包括正向导通电压、反向阻断电压、触发电流、保持电流等参数的测试,这些参数可以通过测试仪器进行测量。

2. 动态特性测试:包括开关速度、开关损耗、反向恢复时间等参数的测试,这些参数可以通过示波器等测试仪器进行测量。

3. 可靠性测试:包括温度循环测试、高温高湿测试、脉冲电流测试等,这些测试可以模拟实际工作环境下的应力情况,评估可控硅的可靠性。

通过以上测试,可以评估可控硅的性能和可靠性,判断其好坏。

可控硅的好坏可以通过以下几个方面进行测量:

1. 测量导通电压:可控硅导通时,正向电流不可逆转,电阻变得很小,并且在正向电压下导通。因此,可以用数字万用表或示波器等仪器测量可控硅的导通电压,如果电压值超过规定的允许值,说明可控硅已经失效。

2. 测量反向电压:可控硅反向电压也需要注意,如果超过规定的允许值,说明它的反向击穿电压已经达到了极限,也说明可控硅已经失效。

3. 测量触发电流:用数字万用表测量可控硅的触发电流,如果触发电流超出规定值,说明可控硅工作不稳定。

4. 测量关断时间:测量可控硅的关断时间,即从停止加电到停止通电的时间,如果关断时间过长,则说明可控硅失效或老化。

5. 测量漏电流:可控硅在关闭状态下,应该没有漏电流,如果有漏电流存在,则说明可控硅已经失效。

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