目前涂层测厚仪(膜厚仪)所采用的原理基本是以下几种:
1. 放射性测厚法:利用射线穿透检测。此类仪器价格非常昂贵(一般在10万人民币以上)。适用于一些特殊环境,各项技术参数要求相对比较高,使用范围相对狭窄。
2. 超声波测厚法:利用超声波频率变化检测。适用于多层涂层厚度的测量。一般价格昂贵,测量精度也不高,国内暂时还没有投入生产。
3. 微波激光测厚法:正在研发中。
4. 电解测厚法:需要破坏涂层,属于有损检测,基本上已弃用。
5. 涡流测厚法:利用涡流原理检测。适用于导电金属上的非导电层厚度测量。也就是我们一般所说的铝基膜厚仪。
6. 磁性测厚法:适用导磁是否会的非导磁层厚度测量。也就是我们一般所说的铁基膜厚仪,这种方法测量结果精度高。
不知道您想了解哪种测厚仪的使用方法呢?