蔡司使用高精度的光学测量仪器对光学配件进行面轮廓度测量。这些仪器可测量表面的几何形状、曲率和表面质量,并确保光学系统的设计要求得到满足。
测量过程中,需要将样本放置在测量台上,并由仪器自动扫描并记录其表面形状。
通过对记录的测量数据进行分析和计算,可以获得样本表面的曲率和轮廓度等信息,提供有关样品表面质量和精度的详细分析,并为制造和检查光学元件提供准确的数据支持。
蔡司三坐标测量曲面轮廓度
1.以基准A为原点,基准B为轴线,基准C为平面建立坐标。
2.在测量的圆弧面上,上下每间隔1MM及左右每间隔1MM距离取1点。
3.圆弧面测取每点到A基准原点的距离在6.4±0.025范围内,(图纸标准值为6.4,轮廓度规格为0.05)