线差法是一种用于测量光学元件表面形貌的方法。它通过测量光束经过元件前后的位置差来计算表面的高度变化。具体步骤如下:
首先,将光束通过待测元件,然后在元件前后分别放置两个探测器。
接下来,通过调整探测器的位置,使得两个探测器接收到的光强相等。
然后,测量两个探测器的位置差,这个差值即为线差。最后,根据线差和光束的入射角度,可以计算出元件表面的高度变化。例如,如果线差为1mm,入射角度为45度,那么可以计算出表面高度变化为1mm/cos(45°)≈1.41mm。
线差法是一种用于测量光学元件表面形貌的方法。它通过测量光束经过元件前后的位置差来计算表面的高度变化。具体步骤如下:
首先,将光束通过待测元件,然后在元件前后分别放置两个探测器。
接下来,通过调整探测器的位置,使得两个探测器接收到的光强相等。
然后,测量两个探测器的位置差,这个差值即为线差。最后,根据线差和光束的入射角度,可以计算出元件表面的高度变化。例如,如果线差为1mm,入射角度为45度,那么可以计算出表面高度变化为1mm/cos(45°)≈1.41mm。
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