die测试是什么（chamber测试什么的）

Die测试是一种用于评估半导体芯片质量和可靠性的测试方法。它通过对芯片进行高温、高电压、高频率等极端条件下的测试，来模拟芯片在实际使用中可能遇到的极端环境。

Die测试可以检测芯片的性能、功耗、温度特性、电压容忍度等关键参数，以确保芯片在各种工作条件下的稳定性和可靠性。

通过进行Die测试，可以提前发现和解决芯片可能存在的问题，从而提高产品质量和可靠性，减少故障率，延长芯片的使用寿命。