AFM是原子力显微镜的缩写,英文全称是Atomic Force Microscopy。它是一种能够以原子尺度观察和测量样品表面形貌和性质的高级显微镜技术。AFM利用微小的力传感器和探针来扫描样品表面,通过感知样品与探针之间的相互作用力来获得图像和测量数据。
它具有高分辨率、三维成像、能在不同环境条件下工作等特点,被广泛应用于材料科学、生物学、纳米技术等领域,为研究和开发新材料和纳米器件提供了有效的手段。
AFM是英文“Air Force Microelectronics”的缩写,中文意思是“空军微电子”。
AFM的主要职责是提供先进的微电子解决方案,并利用其专业技术与知识来提供信息优势、保护关键信息以及完成机密任务。
AFM在空军中扮演着重要的角色,负责开发和维护微电子系统,以确保空军在战场上的优势。